厂家开模晶振3225-4PIN晶振老化座3.2*2.5翻盖探针频率测试座

深圳市鸿怡电子有限公司为您提供厂家开模晶振3225-4pin晶振老化座3.2*2.5翻盖探针频率测试座。3.2*2.5-4pin晶振探针老化座
产品简介
a、产品用途:老化座、测试座，对32253.2*2.5的ic芯片进行高低温老化测试
b、适用封装: 3225(3.2*2.5)-4pin晶振探针老化座
c、采用双触点技术，接触更稳定、体积小。
d、采用特殊的工程塑胶，强度高、-、阻抗小、弹性好
e、镀金层加厚，触点加厚电镀，-接触阻抗、高-度，使用寿命翻盖结构20000次
f、我司可提供规格书布板图资料，pdf档\cad
规格尺寸
a、型号: 32253.2*2.5-4pin
b、脚位:4
c、芯片尺寸:3.2*2.5
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