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抗性淀粉含量测试服务品牌企业「多图」

发布者:武汉迈斯普生物科技有限公司  时间:2021-12-23 






目前, 扫描电子显微镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究, 仅在地球科学方面就包括了结晶学、矿物学、矿床学、沉积学、地球化学、宝石学、微体古生物、天文地质、油气地质、工程地质和构造地质等。

1932年,knoll 提出了sem可成像放大的概念,并在1935年制成了极其原始的模型。1938年,德国的阿登纳制成了台采用缩小透镜用于透射样品的sem。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像,sem一直得不到发展,只能在电子探针x射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后,在许多科学家的努力下,解决了sem 从理论到仪器结构等方面的一系列问题。


观察样品的景深大, 视场大, 图像富有立体感, 可直接观察起伏较大的粗糙表面和试样凹凸不平的金属断口象等, 使人具有亲临微观现场之感。 

样品制备简单, 只要将块状或粉末状的样品稍加处理或不处理, 就可直接放到扫描电镜中进行观察, 因而更接近于物质的自然状态。 

可以通过电子学方法有效地控制和-图像, 如亮度及反差自动保持, 试样倾斜角度校正, 图象旋转, 或通过y调制-图象反差的宽容度, 以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器, 可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。


直接观察大试样的原始表面。它能够直接观察直径100 mm, 高50 mm, 或尺寸的试样, 对试样的形状没有任何-, 粗糙的表面也能观察, 这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背反射电子象)。 观察厚试样。其在观察厚试样时,能得到高的分辨率和真实的形貌。扫描电子显微的分辨率介于光学显微镜和透射电子显微镜之间。但在对厚块试样的观察进行比较时, 因为在透射电子显微镜中还要采用复膜方法, 而复膜的分辨率通常只能达到10 nm, 且观察的不是试样本身,因此,用扫描电子显微镜观察厚块试样更有利, 更能得到真实的试样表面资料。



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