镀层分析仪-济南测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

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2021-1-10  
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一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,led和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

 在我们的售前服务工作中,客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比,在确认双方仪器都是正常的情况下,会存在或多或少的差异,那么我们务---把这个差异的来源分析给客户,我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理,告知此仪器为对比分析测试仪器,然后再谈误差来源,主要来源:


  1、标样:对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样,测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样?使用的---厚度的标样?

2、样品材料的详细信息:如ni/cu的样品,如果一家是按化学ni测试,一家是按纯ni测试;au/ni/cu/pcb样品,一款仪器受br干扰,一款仪器排除了br干扰。

   3、测量位置、面积:确定在同一样品上测试的是否同一位置,因为样品在电镀时因电位差不同,各部位厚度是有差异的;确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状:测量的样品是否是两款仪器都可测量,或者放置位置是否合适,如---面有无挡住设备接收。









一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,---efp算法  x射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,led和照明,镀层膜厚仪,家用电器,通讯,汽车电子领域.efp算法结合---定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有:楔切法,济南测厚仪,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,膜厚测试仪,x射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中---种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

x射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。


江苏一六仪器  x射线荧光光谱测厚仪

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,镀层分析仪,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,---测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标---的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果---

---的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护


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