集成电路封装测试-南京封装测试-安徽徕森快速检测

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对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护,塑封之后,还要进行一系列操作,如后固化、切筋和成型、电镀以及打印等工艺。csp封装具有以下特点:解决了ic裸芯片不能进行交流参数测试和老化筛选的问题;封装面积缩小到bga的1/4至1/10;-时间缩到极短;csp封装的内存颗粒不仅可以通过pcb板散热,还可以从背面散热,且散热效率-。pwb两面可以形成不同的电路,采用整体回流焊等方式可使两面上搭载的全部元器件一次键合完成,便于自动化操作,实装的-性也有-。这是普遍采用的封装形式。


在tsop封装方式中,内存颗粒是通过芯片引脚焊在pcb板上的,半导体封装测试,焊点和pcb板的接触面积较小,南京封装测试,使得芯片向pcb板传热相对困难。而且tsop封装方式的内存在超过150mhz后,会有很大的-和电磁干扰。人们对芯片级封装还没有一个统一的定义,有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于2的定为csp,封装测试公司,而有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于1.4或1.2的定为csp。开发应用为广泛的是fbga和qfn等,集成电路封装测试,主要用于内存和逻辑器件。csp的引脚数还不可能太多,从几十到一百多。这种高密度、小巧、扁薄的封装非常适用于设计小巧的掌上型消费类电子装置。


半导体封装经历了三次重大-:次是在上世纪80年代从引脚插入式封装到表面贴片封装,它-地提高了印刷电路板上的组装密度;第二次是在上世纪90年代球型矩阵封装的出现,满足了市场对高引脚的需求,-了半导体器件的性能;芯片级封装、系统封装等是第三次-的产物,其目的就是将封装面积减到。开发应用为广泛的是fbga和qfn等,主要用于内存和逻辑器件。csp的引脚数还不可能太多,从几十到一百多。这种高密度、小巧、扁薄的封装非常适用于设计小巧的掌上型消费类电子装置。引脚从封装主体两侧引出向下呈j字形,直接粘着在印刷电路板的表面,通常为塑料制品,多数用于dram和sram等内存lsi电路,但绝大部分是dram。用soj封装的dram器件很多都装配在simm上。引脚中心距1.27mm,引脚数从20至40不等。


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