半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
测试说明
1.xrd测试默认采用铜靶，若您的样品为黑色金属(fe/mn/cr/ni/co)及其合金，建议选择钴靶进行测试。2.对于晶粒比较小或晶型比较弱的样品请选择比较慢的扫描速率。
3.对于涂层材料或薄膜材料，当薄膜厚度较薄时建议选择小角掠射的模式进行测试。
4.xrd测试时间一般由扫描的角度范围和扫描速率决定测试时间=扫描角度范围/扫描速率;假如您的样品扫描角度范围是10-90°，扫描速率是10°/min，内蒙古自治xrd倒易空间rsm，那么测试时间=80/10=8min。
5对于测试时间大于15min的样品，自动生成的价格为默认的基础价格，商家收到样品后会根据测试条件按收费标准进行修改，用户也可以在下单时联系商家进行修改后付款。
6如果样品的摇摆曲线和phi扫描出峰效果比较好，可做倒易空间mapping测试，否则不建议进行该项目的测试，倒易空间mapping自动生成的价格为默认的基础价格，具体价格以沟通后确认的为准。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~
半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，xrd倒易空间rsm机构，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
对样品粉末粒度的要求
任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。这样才能-用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能-用衍射仪法获得的衍射强度值有-的重现性。
此外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向；而且在定量解析多相样品的衍射强度时，可以忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。所以在精u确测定衍射强度的工作中例如相定量测定十分强调样品的颗粒度问题。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~
半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
对样品粉末粒度的要求
对于衍射仪以及-照相法，实验时试样实际上是不动的。即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，xrd倒易空间rsm哪里有，有时甚至那些可以通过360目38μm粉末颗粒都不能符合要求。对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能达到1％，颗粒大小若在10μm以内，则误差在2～3％左右。但是若样品本身已处于微晶状态，则为了能制得平滑粉末样面，样品粉末能通过300目便足够了。
对于不同吸收性质的粉末，颗粒度可以认为“足够细”的尺寸要求是各不相同的，因为样品受到x射线照射的有效体积和可以忽视样品中微吸收效应的颗粒上限都取决于样品的吸收性质。brindley对此作过详细的分析，他在衍射分析中对粉末的颗粒度按μd值进行分级μ为物质的线吸收系数，d为晶体的平均直径。
细 颗 粒： μd < 0.01
中等颗粒：0.01 < μd < 0.1
粗 颗 粒： 0.1 < μd < 1
十 分 粗： μd >; 1
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~
|
登录后台
