半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，xrd晶粒尺寸机构，以及行业应用技术开发。
设备介绍：
x射线/紫外光电子能谱仪xps/ups利用x射线或者紫外线照射样品激发出光电子，并通过检测和分析光电子动能大小与光电子信号强度的关系，确定样品中所含元素种类及其化学态。nexsa具备xps、ups功能，可采用微---小光斑小10 μm实现微区成像与成分分析，并具有---剖析功能，可以检测分析块体、薄膜、粉末或器件等固体样品的元素组成、化学价态、价带、功函数等信息。
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衍射卡片里---对强度怎么有的大于 100？
比如为 999粉末衍射卡的强度数据以相对强度提供，一般以线为 100。但是计算的粉末衍射数据峰的强度值取作 999。其实相对强度的数值并不重要，您只要把的当作 100，其它的与之比较就可以了，比如 999 当作 100 那么 500 就是 50，353 就是 35，在这里因为是估计，有误差也没有关系了。
同一种物质对应着两张卡片，这正常吗？
这很正常，两张卡片是在不同的时间或由不同的人做的。你可以按卡片号调出卡片，卡片上就可以查到卡片数据出处的原始文献。
在 x 射线粉末衍射的数据表中，peak list 中有 rel.int.[%]，pattern list 中有 scale fac，请问rel.int.[%]，scale fac代表的意义。
rel.int.[%]的意思是相对强度，%，scale fac是强度比例因子。
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xrd结晶度计算公式和分析方法是什么？
xrd结晶度是根据部分结晶聚合物的x射线衍射强度峰总面积中晶区部分贡献的百分数计算的结晶度。
分析方法：
已知波长的x射线来测量θ角du，从而计算出晶面间距d，这是用于x射线结构分析zhi；dao另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征x射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为x射线的波长，河南xrd晶粒尺寸，n为任何正整数，又称衍射级数。
当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时，在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。
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