xrd晶粒尺寸检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
用 xrd 图来精修出分子结构研究分子的性质， 收集 xrd 时应注意些什么?
强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。
做 xrd 时步长一般为 0.02 度，但是如果要做 rietveld 分析，出了强度要求 500 以上，步长有没有什么要求啊？
一个半峰宽内有 3-5个点就可以了，青海xrd晶粒尺寸检测，步长一般为 fwhm 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在10000-20000之间。
3如果用普通的xrd仪器如 brucker d8或者 philips 等测试粉末的 xrd，扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析，需要加内标吗？
扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上，xrd晶粒尺寸检测哪里可以做，至于内标是不需要的。
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我做的是磷矿粉的 xrd，它属于六方晶系。请问有没有能计算晶胞参数的程序以及程序的用法？
先您应该要求给您作衍射的实验室提供d值和强度的衍射数据，然后检索icdd 卡片。如果你把这个物相的卡片数据检索到了，那么你的问题就是晶胞参数精修了， chekcell精修晶胞参数。如果你还想计算结晶粒度的大小，建议你用一些全谱拟合的软件，如fullprof 等，这样，不仅可以精修晶胞参数，同时也可以得到半高宽或积分宽度的数据，可以用于结晶粒度计算。关注材料基公众号，学习更多技能。当然，要计算结晶粒度，好还要进行仪器校正曲线的测定，一般在收集你的实验样品的同时，xrd晶粒尺寸检测实验室，再在相同条件下收集标准样品lab6，标准 si 等的谱图，以便扣除仪器对半高宽或积分宽度的贡献。
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fullprof精修中的 scale 的初值一般是怎么确定的?
比例因子 scale 是指理论计算数据与实验数据之间的比值，一般---给就可以，不会影响精 修的。只要你的初始模型正确，几轮就可以修到比较合理的值。
做rietveld 时发现：如果事先对原始数据进行平滑等一系列的预处理会比较容易使r 因子 减小，这样的做法是否---？
做 rietveld 时，是不需要对数据进行平滑处理的，因为平滑处理肯定会使数据在一定程度上失真的。不过，在不影响峰形的前提下进行轻度的平滑处理也是可以的。
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