半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要-半导体产业发展的应用技术研究，-重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
当然，我们还得提一提结晶度的影响。一些结晶不好的物相，部分地存在非晶，当然会使衍射峰变宽变低。在一些粘土矿物中，这种现象表现得尤为明显。不知你注意了没有，上面的文字中多次用到低而宽，高而窄这样的词。这就是说，半导体xrd检测实验室，一个峰如果变宽了，势必会使峰变低，以保持衍射峰的面积基本不变。从这一点来看，如果各物相的衍射峰宽度不同，用面积来作为强度计算含量似乎要准确一些。
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但是，kβ滤片不能去除样品产生的荧光 x 射线对衍射图的影响。荧光 x 射线的强度将叠加在衍射图的背景上，造成-的背景，不利于衍射图的分析。因此，对于 x 射线衍射仪 来讲，如果设备没有配置弯晶石墨单色器仅使用 kβ滤片，选波长(或者说选靶)主要考虑的就是样品中的主要组成元素不会受激发而产生-的荧光x 射线。如果分析样品中的元素的原子序数比靶的元素的原子序数小1至4，就会出现强的荧光散射。
例如使用 fe 靶分析主要成分元素为 fe、co、ni 的样品是合适的，而不适合分析含有 mn cr v ti 的物质;cu 靶不适合于分析有 cr，mn，fe，co，ni 这些元素的物质。所以，对于 cr 是主要组成元 素的样品，只能选择 cr 靶 x 射线管。
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衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系，半导体xrd检测多少钱，因为以前用 rigaku 的 dmax，每次都是几千，但现在用 bruker 或者 philips，好像每次都在一千以下，不知道是什么问题。粉末的结晶肯定是好的。
与发生器的功率有关。你曾使用的 rigaku 的 dmax 是高功率的转靶衍射仪吧？强度也和衍射仪的扫描半径有关。
用国产仪器测的 xrd 数据能不能用于 retrieve 精修?
国产衍射仪的基本技术指标测角准确度、重现性、分辨率，衍射强度稳定性、长期工作 稳定性等指标与进口衍射仪并无水平级的差异。配有石墨弯晶单色器的国产衍射仪，正确选择狭缝、采数步宽和步进计数时间-峰强度，同样能够获得能够用于retrieve精修的衍射数据。
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