当材料暴露在短波长光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，-驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补-下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质出的辐射，这是原子的能量特性。
不同结构荧光化合物都有特征的激发光谱和发射光谱，因此可以将荧光物质的激发光谱与发射光谱的形状、峰位与标准溶液的光谱图进行比较，从而达到定性分析的目的，邯郸荧光光度计，在低浓度时，溶液的荧光强度与荧光物质的浓度成正比：f=kc。其中，f为荧光强度，techcomp荧光光度计报价，c为荧光物质浓度，k为比例系数。这就是荧光光谱定量分析的依据。
x射线荧光光谱仪x-ray fluorescence spectrometer，爱丁堡荧光光度计，简称：xrf光谱仪，edinburgh荧光光度计，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线荧光x-ray fluorescence，xrf是用高能量x射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级x射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，-是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，-学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。
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