一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- -(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，镀锌测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um
用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：
由于对塑胶产品上涂层的测量，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值-偏差。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层，先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜，再用纸基美纹胶压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。
江苏一六仪器 选择x荧光光谱镀层检测仪的四个理由：
1、无损检测
镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而x射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。
2、强化品质-
x荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质-的前提。
3、提升生产力
传统的检测技术，既耗时又耗人力，而x荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。
4、提升市场竞争力
x荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- -(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 x射线荧光测厚仪工作原理
当原子受到x射线光子(原级x射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，测厚仪，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级x射线光子，此即x射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，x射线荧光的波长对不同元素是特征的，镀层测厚仪，根据元素x射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。
根据色散方式不同，x射线荧光分析仪相应分为x射线荧光光谱仪(波长色散)和x射线荧光能谱仪(能量色散)。x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的x射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将x射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。
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