一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- -(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
选择elite一六仪器x射线荧光镀层测厚仪理由：
根据ipc规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，测厚仪价格，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量pcb板上的au/pd/ni/cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，锡膏测厚仪，如果使用au，pd，ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，
2、采用微-x射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微-x射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行---测量。
3、elite一六仪器winftm---软件，具有---且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，测厚仪，24种元素，测量数据可直接以word格式或excel格式输出、打印、保存。采用基本参数法fp，有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、 elite一六仪器针对pcb印制电路板线路板上的镀层厚度及分析而设计的x射线荧光测厚仪xdlm-pcb200/pcb210系列具有以下特点：1工作台有手动和程序控制供客户选择，2采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们-研发团队具备十年以上的从业经验，电解测厚仪，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
江苏一六仪器 能量色散x射线荧光光谱测厚仪
x射线的产生利用x射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生x射线。从设计---为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种x射线管，都是设计成能够把x射线均匀得照射在样品表面的结构。
x射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(w)、铑(rh)、钼(mo)、铬(cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则---析目标元素与靶材的材质不同。
江苏一六仪器有限公司是一家---于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们-研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪
x荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定
在包含某种元素1的样品中，照射一次x射线，就会产生元素1的荧光x射线，不过这个时候的荧光x射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光x射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光x射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。
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