纳米铜粉成分的分析方法——x射线光电子能谱技术xps
xps是一种表面分析方法, 使用x射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来,被光子激发出来的电子称为光电子,水雾化纯铜粉批发,可以测量光电子的能量和数量,从而获得待测物组成。主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。元素的定性分析和定量分析。固体表面分析。在光电子来自表面10nm以内,仅带出表面的化学信息,具有分析区域小、分析-浅和不破坏样品的特点。如想了解更多铜粉的相关信息,欢迎来电咨询。
为了获得一次铜粉粒径的正确数据,水雾化纯铜粉,铜粉粒度测试中常需要将团聚铜粉粒子打开,形成颗铜粉粒单体并保持均匀分散在介质中,这个操作称为“分散”。激光铜粉粒度仪对分散系统的要求是“分散而不离析”。
超声分散。利用超声波在液体中传播时的空化作用将团聚体解聚。
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