膜厚测试仪-日照测厚仪-江苏一六仪器(查看)

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(ci)- -(u)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，日照测厚仪，24种元素   厚度检出限:0.005um

工业x射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点，已在冶金、建材、地质、、商检、考古、医学等领域得到迅速推广和应用。近几年来x射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知，光谱分析仪，产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素x射线荧光分析方法，能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求，并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。

       江苏一六仪器有限公司是一家-于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们-研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名---通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪

    x荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定

在包含某种元素1的样品中，照射一次x射线，就会产生元素1的荧光x射线，膜厚测试仪，不过这个时候的荧光x射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光x射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光x射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。