4探头超声波扫描显微镜分析系统,
半导体常用失效分析检测仪器;
显微镜分析om无损检测
金相显微镜om:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,海南显微镜,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机数码相机通过光电转换有机的结合在一起,红外显微镜,不仅可以在目镜上作显微观察,微光显微镜,还能在计算机数码相机显示屏幕上观察---图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及---工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。
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