型号
技术指
量程
测量范围
分辨率
测试电流
准确度
200ω
0-199.9ω
100mω
0.1%
2kω
0-1.999kω
1ω
0.1%
20kω
0-19.99kω
10ω
0.1%
显示方式
3 1/2位led数码管
设定范围
上、下限设定,全量程
分选方式
声、光快速指示
分选误差
+2个字
校准功能
零点及满度校准
响应时间
<0.5s
电源
功耗
≤5w
外型尺寸
重量
备注:
适用于对各类元件的直流电阻值作精密测量和快速分选之用。产品体积小、重量轻、造型美观、携带方便。产品带单片微处理机和rs232串行通讯接口,可方便地与计算机通讯。
正阳仪表 数字式直流电阻分选仪 zy9965μp-4更多相关产品>;>;>;>;>;
st2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 a.s.t.m 准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针、测试台以及pc软件等部分组成。
主机主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式单片机系统组成,usb通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在pc机上操作完成,也可脱pc机由四探针仪器面板上操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印!
选配:根据不同材料特性需要,可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜ito膜或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配---,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:一般
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、---院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
3.1 测量范围
电 阻:1×10-4~2×105ω ,分辨率:1×10-5~1×102ω
电阻率:1×10-4~2×105ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102ω-cm
方 阻:5×10-4~1×106ω/□,分辨率:5×10-5~1×102ω/□
3.2 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径:szt-a圆测试台直接测试方式 φ15~130mm,
szt-b/c/f方测试台直接测试方式180mm×180mm,
长(高)度:测试台直接测试方式 h≤100mm,
测量方位: 轴向、径向均可
3.3 量程划分及误差等级
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kω-cm/□
kω-cm/□
ω-cm/□
mω-cm/□
&plun;2%fsb
&plun;4lsb
&plun;1.5%fsb
&plun;4lsb
&plun;0.5%fsb&plun;2lsb
&plun;1.0%fsb
&plun;4lsb
3.4 四探针选配其一或加配全部
(1)碳化钨探针:φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调
(2)薄膜方阻探针:φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调
3.5. 电源
输入: ac 220v&plun;10% ,50hz 功 耗:<20w
3.6.外形尺寸:
主 机 220mm长×245 mm宽×100mm高
净 重:≤2.5kg
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