半导体电阻率测试仪

宁波培正电子科技有限公司为您提供半导体电阻率测试仪。半导体电阻率测试仪操作手册
　　功能描述：
　　四探针组合双电测量方法
　　液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.
　　集成电路系统、恒流输出.
　　选配：pc软件进行数据管理和处理.
　　提供中文或英文两种语言操作界面选择
　　参照标准：
　　1.硅片电阻率测量的标准astm f84.
　　2.gb/t 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
　　3.gb/t 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
　　4.gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
　　双电组合测试方法：
　　利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，适用于斜置式四探针对于微区的测试
　　半导体电阻率测试仪
　　
　　
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