封装用IGBT测试仪-给您好的建议

华科智源igbt电参数测试仪，可用于多种封装形式的igbt的测试，还可以测量大功率二极管、igbt模块、大功率igbt、大功率双极型晶体管等器件的vi特性测试，广泛应用于轨道交通，电动汽车，风力发电，焊机行业的igbt来料选型和失效分析。测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试。

深圳市华科智源科技有限公司，是一家从事功率半导体测试系统自主研发制造与综合测试分析服务的高新技术企业，坐落于改革开放之都-中国深圳，---业务为半导体功率器件智能检测准备研制生产，公司产品主要涉及smt首件检测仪，mos管直流参数测试仪，mos管动态参数测试仪，igbt动态参数测试系统，igbt静态参数测试仪，在线式检修用igbt测试仪，变频器检修用igbt测试仪，igbt模块测试仪，轨道交通检修用igbt测试仪，风力发电检修用igbt测试仪。

测试的igbt参数包括：ices漏流、bvces耐压、igesf正向门极漏流、igesr反向门极漏流、vgeth门槛电压／阈值、vgeon通态门极电压、vcesat饱和压降、icon通态集极漏流、vf二极管压降、gfs跨导、rce导通电阻等全直流参数, 所有小电流指标---1%重复测试精度, 大电流指标---2%以内重复测试精度。

半导体元件全自动测试系统，可以元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用； 可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达2kv。

静态及动态测试系统 技术规范 供货范围一览表 序号 名称 型号 单位 数量 1 半导体静态及动态测试系统 hustec-2010 套 1 1范围 本技术规范提出的是限度的要求，并未对所有技术细节作出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货方应提供符合工业标准和本技术规范的---产品。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，应按较高标准执行。

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