辽宁-IGBT测试仪价格-

1.1 设备数量 1套 * 1.2 设备功能 测试功率半导体器件静态参数 * 1.3 设备组成 设备包含硬件模块和软件模块两大部分 * 1.4 硬件模块 设备硬件部分应包括测试主机、测试线缆，测试夹具、控制电脑等 * 1.5 软件模块 设备软件部分应包括： 1.操作系统、备份、保存、远程控制编辑、上传、故障自检报警等基本功能； 2. 图形化操作界面；中/英文操作系统 3.输出excel、wor测试报告 *4.切换大小功率测试模块，达到相应测试精度 *5.可---件的i-v特性曲线，曲线上测试点数据可以导出到excel表格； *6.同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比，新测曲线可以与原测曲线进行对比； 2、设备尺寸 2.1 设备总体长度 ≤ 700 mm 2.2 设备总体宽度 ≤600mm 2.3 设备总体高度 ≤500mm

为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？

当功率元件老化时，元件的内阻在导通时---会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。

关断时间测试参数： 1、关断时间toff：5～2000ns±3%±3ns 2、关断---时间td(off)：5～2000ns±3%±3ns 3、下降时间tf：5～2000ns±3%±3ns 4、关断能量：0.2～1mj±5%±0.01mj 1～50mj±5%±0.1mj 50～100mj±5%±1mj 100～500mj±5%±2mj 5、关断耗散功率pon：10w～250kw 关断时间测试条件： 1、集电极电压vce：50～100v±3%±1v 100～500v±3%±5v 500v～1000v±3%±10v 2、集电极电流ic：50～100a±3%±1a; 100～500a±3%±2a; 500～1000a±3%±5a;

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