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-IGBT测试仪-厂家-

发布者:深圳市华科智源科技有限公司  时间:2020-6-20 

测量目的:对模块的电压降参数进行检测, 可判断模块是否处于正常状态。 功率模块的vce-ic特性曲线会随着器件使用年限的增加而变化,饱和压降vcesat会逐渐劣化。因此,定期检测可预防发现功率模块故障。且变流器由多个模块组成,由于个体差异,大电流情况下的参数也会存在个体差异。大功率igbt模块测试系统简介我公司所设---产的半导体元件自动测试系统具备下列测试能力:☆可单机独立操作,测试范围达2000v及50a。因此,测量大电流情况下的各个模块实际技术参数,进行---管理,可有效保障机车中间直流环节-运行。 igbt模块vce-ic特线单管,vcesat随电流变大而增大。


1.1 设备数量 1套 * 1.2 设备功能 测试功率半导体器件静态参数 * 1.3 设备组成 设备包含硬件模块和软件模块两大部分 * 1.4 硬件模块 设备硬件部分应包括测试主机、测试线缆,测试夹具、控制电脑等 * 1.5 软件模块 设备软件部分应包括: 1.操作系统、备份、保存、远程控制编辑、上传、故障自检报警等基本功能; 2. 图形化操作界面;中/英文操作系统 3.输出excel、wor测试报告 *4.切换大小功率测试模块,达到相应测试精度 *5.可---件的i-v特性曲线,曲线上测试点数据可以导出到excel表格;三、华科智源igbt测试仪系统特征: a:测量多种igbt、mos管 b:脉冲电流1200a,电压5kv,测试范围广。 *6.同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比,新测曲线可以与原测曲线进行对比; 2、设备尺寸 2.1 设备总体长度 ≤ 700 mm 2.2 设备总体宽度 ≤600mm 2.3 设备总体高度 ≤500mm


半导体元件除了本身功能要-之外,其各项参数能否达到电路上的要求,必须定期测量,否则产品的特性很难-,尤其是较大的功率元件,因具有耗损性,易老化及效率降低,因不平衡导致烧毁,甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。华科智源igbt电参数测试仪,可用于多种封装形式的igbt的测试,还可以测量大功率二极管、igbt模块、大功率igbt、大功率双极型晶体管等器件的vi特性测试,广泛应用于轨道交通,电动汽车,风力发电,焊机行业的igbt来料选型和失效分析。 半导体元件的每一个参数,依其极性的不同,都须要一个---的测量电路,我公司所设---产的半导体元件自动测试系统,具有一组继电器形成的矩阵电路,依每个参数的定义,形成千变万化的电路,再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后,在极短的时间内将所须要的数据量测出来,且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。


静态及动态测试系统 技术规范 供货范围一览表 序号 名称 型号 单位 数量 1 半导体静态及动态测试系统 hustec-2010 套 1 1范围 本技术规范提出的是限度的要求,并未对所有技术细节作出规定,也未充分引述有关标准和规范的条文,供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时,应按较高标准执行。公司拥有一批长期从事自动控制与应用、计算技术与应用、微电子技术、电力电子技术方面的人才。



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