了解XRF中的常用“密语”，为检测加速

在查看xrf分析仪相关的内容时，会留意到信息里常常会出现很多的英文略缩术语。通过这篇文章，我们来了解这些经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。
xrf
xrf = x射线荧光。是为一种快速的无损检测方法。用以检测材料的化学元素组成。像类似的略缩术语有:
edxrf = 能量色散型x射线荧光光谱法。快速、经济的x射线荧光技术，普遍被运用在手持式的x射线荧光分析仪中。
wdxrf = 波长色散型x射线荧光光谱法。实验室用的x射线荧光技术，相比较于利用能量色散型x射线荧光光谱法的分析仪，其价格昂贵。
hhxrf = 手持式x射线荧光分析仪
pxrf = 便携式x射线荧光分析仪
探测器
手持式xrf分析仪一般使用两种类型的探测器：
pin = 硅pin二极管探测器。相较sdd探测器，是一种较为早期、便宜、探测效率慢的一种探测器。
sdd =硅漂移探测器。一种新型探测器，相较pin探测器，计数率为其的10倍。
元素
le =轻元素。轻元素被激发时发射的x射线能量很低，所以难以被我们的探测器接收到。
在判定le的含义时需要结合上下文的内容。因为我们也经常将手持式xrf分析仪能够测量到的一些轻元素也称作为le，包括：
镁 mg、铝 al、硅 si、磷 p、硫 s、氯 cl、钾 k、钙 ca
上述轻元素只有利用sdd探测器才能检测。
在大多数的情况下， le 也代表在化学元素周期表中原子序数低的元素， 这些元素是没有办法用手持式xrf分析仪进行检测的，比如钠na， 碳 c， 氢 h，以及氧 o。
氢h到钠na: 这些le 蓝格子内的 我们无法使用手持式xrf分析仪探测到。镁 mg 到钪 sc: 这些元素 黄格子内 无法用pin探测器检测—需要使用搭载了sdd探测器的手持式xrf分析仪。
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