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蔡司ZEISS三坐标测量授权代理咨询 北京一测有限公司
三坐标测头对于不同的工件，通常使用不同直径和长度的探针。并且对于复杂的工件可能使用多个测头角度来完成测量。在测量过程中，往往要通过不同测头角度、长度和直径不同的探针组合测量元素。不同位置的测量点必须要经过转化才能在同一坐标下计算，这就需要测头校验得出不同测头角度之间的位置关系才能进行准确换算。
三坐标测头
如果不事先定义和校准测头，软件系统本身是无法获知所使用的探针类型和测量的角度。测量得到的数据结果自然是不正确的。因此，必须要对所使用的测头进行校验，使得软件知道所配置的探针情况，包括探针数量、方位、探针半径及探针球心的相互位置关系。并且了解所使用探针的精度状况，做到及时更换以-实现测量的精度要求。
光学测头相比接触式测头还有另一方面的优势。接触式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，然后根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标。但当测量特定位置的三维曲线时，如果不按照测点的法线方向去采点，会存在半径补偿余弦误差;而如果按照测点的法线方向去采点，又会产生实际测点位置出现偏差的情况。这种情形在测量透平叶片时尤为常见。
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