检修用IGBT测试仪价格- 华科IGBT测试台

测试参数多且完整、应用领域更广泛，但只要使用其基本的2项功能：「开启」电流压降，「关闭」电流的漏电流，就可知道大功半导体有没有老化的现象。

?可移动型仪器，使用方便，测试简单快速，立即提供测试结果与数值。

?适用的半导体元件种类多，尤其能测大功率元件。

?用户能确实掌握新采购元件的，避免用到瑕疵或品。

?完全由计算机控制、快速的设定参数。

?适用于实验室和老化筛选的测试。

?操作非常简单、速度快。

?完全计算机自动判断、自动比对。

关断时间测试参数： 1、关断时间toff：5～2000ns±3%±3ns 2、关断---时间td(off)：5～2000ns±3%±3ns 3、下降时间tf：5～2000ns±3%±3ns 4、关断能量：0.2～1mj±5%±0.01mj 1～50mj±5%±0.1mj 50～100mj±5%±1mj 100～500mj±5%±2mj 5、关断耗散功率pon：10w～250kw 关断时间测试条件： 1、集电极电压vce：50～100v±3%±1v 100～500v±3%±5v 500v～1000v±3%±10v 2、集电极电流ic：50～100a±3%±1a; 100～500a±3%±2a; 500～1000a±3%±5a;

4验收和测试 1)验收由双方共同参加，按照技术规范书的技术要求逐项完成所有测试项，检验单元是否功能齐全、模块完整、正常运行。凡是半导体元件如金属氧化场效晶体管(mosfet)、igbt(insulatedgateb。由卖方现场安装、测试，买方确认测试合格通过后完成验收。 2)卖方负责组织和实施整个单元的组装、调试、系统集成工作；负责免费培训并提供培训教材。培训后，应能达到用户能基本完全独立熟练操作单元进行功率半导体性能测试，并能解决实际工程问题。

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