便携式IGBT测试仪厂家欢迎来电「多图」
2主要技术参数 1基本参数 功率源: 5000v 1200a 2栅极-发射极漏电流iges iges: 0.1-10ua±2%±0.01ua 集电极电压vce: 0v 栅极电压vge: 0-40v±3%±0.1v 3集电极-发射极电压 集电极电压vces: 100-5000v±2%±10v 集电极电流ices: 0.1-5ma±3%±0.01ma 栅极电压vge: 0v 4集电极-发射极饱和电压vcesat vcesat:0.2-5v 栅极电压vge: ±15v±2%±0.2v 集电极电流ice: 10-1200a±2%±1a 5集电极-发射极截止电流ices 集电极电压vce: 100-5000v±3% 集电极电流ices: 0.1-5ma±3%±0.01ma 栅极电压vge: 0v 6栅极-发射极阈值电压 vgeth: 1-10v±2%±0.1v vce: 12v 集电极电流ice: 30ma±3% 7二极管压降测试 vf: 0-5v±2%±0.01v if: 0-1200a±2%±1a vge: 0v
半导体元件除了本身功能要---之外,其各项参数能否达到电路上的要求,必须定期测量,否则产品的特性很难---,尤其是较大的功率元件,因具有耗损性,易老化及效率降低,因不平衡导致烧毁,甚至在使用中会发生。优势行业:电力设备、地铁、铁路动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造的行业。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。 半导体元件的每一个参数,依其极性的不同,都须要一个---的测量电路,我公司所设---产的半导体元件自动测试系统,具有一组继电器形成的矩阵电路,依每个参数的定义,形成千变万化的电路,再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后,在极短的时间内将所须要的数据量测出来,且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。
3.1开通时间ton测试原理框图 图3-1开通时间测试原理框图 其中:vcc 试验电压源 ±vgg 栅极电压 c1 箝位电容 q1 陪测器件实际起作用的是器件中的续流二极管 l 负载电感 :100uh、200uh、500uh、1000uh自动切换 ic 集电极电流取样电流传感器 dut 被测器件 开通时间定义见下图:栅极触发信号第二个脉冲上升的10%到集电极电流ic上升到10%的时间间隔为开通---时间td on ,集电极电流ic上升的10%到90%的时间间隔即为电流上升时间tr ,则ton= td on+tr
5 包装、标志和运输 卖方负责整套设备的包装和运输,并负担由此产生的费用。操作系统、备份、保存、远程控制编辑、上传、故障自检报警等基本功能。出厂调试结束、出厂前预验收完成后,卖方将为每个柜子量身定做包装柜,---包装坚固,能适应中国境内公路、铁路运输,并---设备在现场保存时间的要求。包装与运输由专人负责,每个部分随机文件包括发货清单、出厂合格证、试验报告和主要器件说明书等。
联系时请说明是在云商网上看到的此信息,谢谢!
本页网址:https://www.ynshangji.com/xw/23403237.html
声明提示:
本页信息(文字、图片等资源)由用户自行发布,若侵犯您的权益请及时联系我们,我们将迅速对信息进行核实处理。