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安徽集成电路封装测试择优 安徽徕森快速检测

发布者:安徽徕森科学仪器有限公司  时间:2021-11-17 






封装测试的分类和流程:

封装测试的分类方式有多种,如以封装组合中芯片数目为依据可以分为单芯片封装和多芯片封装;以材料为依据可以分为高分子材料类和陶瓷类;以器件和电路板连接方式为依据可以分为引脚插入型和表面贴装型;以引脚分别为依据可以分为单边引脚、双边引脚、四边引脚、底部引脚等。封装测试时在进行后段工艺eol,对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护、塑封,以及后固化、切筋和成型、电镀以及打印等工艺。封装完成后进行成品测试,后入库出货。扇入和扇出型封装流程这里需要说明的是,为提高晶圆级封装的-性,目前存在多种焊球装配工艺,其中包括氮化物层上焊球、聚合物层上焊球、铜柱晶圆级封装等等。







当电子产品尺寸不断缩小时,其内部使用的半导体器件也必须变小,更小的半导体器件使得电子产品能够更小、更轻、更便携,相同尺寸包含的功能更多。sot封装既大-低了高度,又-减小了pcb占用空间。表面贴片封装是从引脚直插式封装发展而来的,主要优点是降低了pcb电路板设计的难度,同时它也大-低了其本身的尺寸大小。用这种方法焊上去的芯片,如果不用工具是很难拆卸下来的。多芯片模块系统。它是把多块的ic芯片安装在一块多层高密度互连衬底上,并组装在同一个封装中。它和csp封装一样属于已有封装形式的派生品。他们封装测试设备需要贴近消费者市场,以支持产品-,实现规模经济效益。


当电子产品尺寸不断缩小时,其内部使用的半导体器件也必须变小,更小的半导体器件使得电子产品能够更小、更轻、更便携,相同尺寸包含的功能更多。sot封装既大-低了高度,又-减小了pcb占用空间。封装完成后进行成品测试,通常经过入检、测试和包装等工序,后入库出货。典型的封装工艺流程为:划片 装片 键合 塑封 去飞边 电镀 打印 切筋和成型 外观检查 成品测试 包装出货。20世纪80年代初发源于美国,为解决单一芯片封装集成度低和功能不够完善的问题,把多个高集成度、、高-性的芯片,在高密度多层互联基板上组成多种多样的电子模块系统,从而出现多芯片模块系统。随着行业倾向于使用小芯片构建模块的异构设计范例,平台级互连变得非常重要。


csp封装具有以下特点:解决了ic裸芯片不能进行交流参数测试和老化筛选的问题;封装面积缩小到bga的1/4至1/10;用这种形式封装的芯片必须采用smd表面安装设备技术将芯片与主板焊接起来。-时间缩到极短;csp封装的内存颗粒不仅可以通过pcb板散热,还可以从背面散热,且散热效率-。多芯片模块系统。它是把多块的ic芯片安装在一块多层高密度互连衬底上,并组装在同一个封装中。它和csp封装一样属于已有封装形式的派生品。所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电-能的确认,以-半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。



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