便携式IGBT测试仪加工的行业须知「多图」

igbt测试装置技术要求 1设备功能 igbt模块检测装置是用于igbt的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的-，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。 igbt模块检测装置是用于igbt的静态参数测试，在igbt的检测中，采用大电流脉冲对igbt进行vce饱和压降及续流二极管压降的检测。6双电流脉冲的设置：vcc,ic,电感值，间隙时间10到50us(脉宽自动计算)。为提供稳定的大电流脉冲，采用了支撑电容补偿及步进充电的方法，解决igbt进行vce饱和压降及续流二极管压降的检测问题。

技术要求

3.1整体技术指标

3.1.1 功能与测试对象

*1功能

gbt模块动态参数测试。

*2测试对象

被测器件igbt模块动态参数。测试温度范围 tj=25°及125°。

3.1.2 igbt模块动态测试参数及指标

测试单元对igbt模块和frd的动态参数及其他参数的定义满足-iec60747-9以及iec60747-2。

以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。

2.3栅极电荷技术条件 测试参数： 栅极电荷qg：20nc～100uc 20nc～100nc±5%，分辨率±1nc 100nc～500nc±5%，分辨率±5nc 500nc～2uc±5%，分辨率±10nc 2uc～10uc±5%，分辨率±50nc 10uc～100uc±5%，分辨率±100nc 测试条件： 1、栅极驱动电压：-15v～+15v±3%，分辨率±0.1v 2、集电极电流：50～100a±3%±1a; 100～500a±3%±2a; 500～1000a±3%±5a; 3、集电极电压：50～100v±3%±1v 100～500v±3%±5v 500v～1000v±3%±10v 4、栅极驱动电流：满足5a以下测试要求

静态及动态测试系统 技术规范 供货范围一览表 序号 名称 型号 单位 数量 1 半导体静态及动态测试系统 hustec-2010 套 1 1范围 本技术规范提出的是限度的要求，并未对所有技术细节作出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。01v if： 0-1200a±2%±1a vge： 0v。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，应按较高标准执行。

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