半导体芯片封装测试- 安徽徕森价格合理
封装测试设备之bga球珊阵列式封装技术
bga球珊阵列式封装技术关系到产品的功能性,当ic的频率超过100mhz时,传统封装方式可能会产生所谓的“cross talk(串扰)”现象,而且当ic的管脚数大于208pin时,传统封装方式有其困难度,因此,除使用pqfp封装方式外,现今大多数的高脚数芯片如图形芯片与芯片组等皆转而使用bgaball grid array package封装方式。热-机械应力、水分、振动和其他应力会导致微孔的分离,以及与电镀通孔(pth)顶部或底部的铜迹线的分层。bga一出现便成为cpu、主板上南/北桥芯片等高密度、、多引脚封装的选择。
所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电---能的确认,以---半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。封装测试时在进行后段工艺eol,对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护、塑封,以及后固化、切筋和成型、电镀以及打印等工艺。半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电---能的确认,以---半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。也可称为终段测试final test.在此之前,由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测probe test。
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