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如何检测元件有老化的现象？ 半导体元件有许多参数都很重要，有些参数如：放大倍率，触发参数，闩扣，保持参数，崩溃电压等，是提供给-在设计电路时的依据，在检测元件是否有老化的现象时，仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较，就可判定元件的好坏或退化的百分比。 何谓半导体元件的参数？对元件使用上有何重要性？ 中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的，因其必须承受规格上的电压与电流，在某条件下，承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据，元件可能会-烧毁或造成性的损坏。2关断：turnoff(tdoff,tf,eoff,ic,poff)。

开通特性测试采用双脉冲测试法。由计算机设定并控制输出集电极电压vcc值到被测器件的测试要求值一般为被测器件额定电压的1/2，设定±vgg到测试要求值，计算机控制接通开关s1,并控制输出被测双脉冲触发信号，开通和关断被测器件两次，被测器件次开通后，集电极电流ic上升，直至被测器件饱和导通且ic达到测试规定值时，关断被测器件(设为t1时刻)，之后电感l经二极管q1内部二极管续流，ic迅速减小，直至ic降为零时，第二次开通被测器件(设为t2时刻)，此后电感l中的电流向ic转移，ic迅速上升(若l足够大，t1～t2间隔足够短，l中的电流可视为恒流，直至被测器件再次达到饱和导通时(设为t3时刻)，关断被测器件。主要参数 测试范围 精度要求 测试条件vce集射极电压 150～3300v 150～500v±3%±1v。记录下被测器件ic、vce以及vge在t2～t3之间的导通波形，其中，vce采样到示波器的ch1通道，ic取样到示波器的ch2通道，vge采样到示波器的ch3通道，示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机，由计算机对测试波形进行分析与计算，后显示测试结果。

9尖峰抑制电容 用于防止关断瞬态过程中的igbt器件电压过冲。 ?电容容量 200μf ?分布电感 小于10nh ?脉冲电流 2ka ?工作温度 室温～40℃ ?工作湿度 <70% 11动态测试续流二极管 用于防止测试过程中的过电压。 ?反向电压 8000v(2只串联) ?-di/dt大于2000a/μs ?通态电流 1200a ?中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的，因其必须承受规格上的电压与电流，在某条件下，承受度的数据便称为此元件的参数。压降小于1v ?浪涌电流大于20ka ?反向恢复时间小于2μs ?工作温度 室温～40℃ ?工作湿度 <70% 12安全工作区测试续流二极管 ?反向电压 12kv(3只串联) ?-di/dt 大于2000a/μs ?通态电流 1200a ?压降 小于1v ?浪涌电流 大于20ka ?反向恢复时间 小于2μs ?工作温度 室温～40℃ ?工作湿度 <70%

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