封装用IGBT测试仪-厂家-「华科智源」

华科智源igbt电参数测试仪，可用于多种封装形式的igbt的测试，还可以测量大功率二极管、igbt模块、大功率igbt、大功率双极型晶体管等器件的vi特性测试，广泛应用于轨道交通，电动汽车，风力发电，焊机行业的igbt来料选型和失效分析。测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试。半导体元件有许多参数都很重要，有些参数如：放大倍率，触发参数，闩扣，保持参数，崩溃电压等，是提供给-在设计电路时的依据，在检测元件是否有老化的现象时，仅须测量导通参数及漏电流二项即可。

深圳市华科智源科技有限公司，是一家从事功率半导体测试系统自主研发制造与综合测试分析服务的高新技术企业，坐落于改革开放之都-中国深圳，-业务为半导体功率器件智能检测准备研制生产，公司产品主要涉及smt首件检测仪，mos管直流参数测试仪，mos管动态参数测试仪，igbt动态参数测试系统，igbt静态参数测试仪，在线式检修用igbt测试仪，变频器检修用igbt测试仪，igbt模块测试仪，轨道交通检修用igbt测试仪，风力发电检修用igbt测试仪。在调试期间发现元件有缺陷或受到损坏，应由卖方负责免费更换并予以赔偿。

半导体元件除了本身功能要-之外，其各项参数能否达到电路上的要求，必须定期测量，否则产品的特性很难-，尤其是较大的功率元件，因具有耗损性，易老化及效率降低，因不平衡导致烧毁，甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。 半导体元件的每一个参数，依其极性的不同，都须要一个-的测量电路，我公司所设计生产的半导体元件自动测试系统，具有一组继电器形成的矩阵电路，依每个参数的定义，形成千变万化的电路，再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后，在极短的时间内将所须要的数据量测出来，且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。igbt动态参数测试系统技术要求1、设备概述该设备用于功率半导体模块igbt、frd、肖特基二极管等的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。

2.4短路技术条件 1、vcc： 200～1000v 200～1000v±3%±2v 2、一次短路电流：20000a 500～1000a±3%±2a 1000a～5000a±2%±5a 5000a～20000a±2%±10a 3、tp：5-30us 2.5雪崩技术条件 1、vce：50～500v±3%±5v 500～1000v±3%±5v 2、ic：1a～50a 1a～9.9a±3%±50ma 10a～50a±3%±1a 3、ea：10mj～20j 10mj～1000mj±3%±1mj 1j～20j±3%±10mj 4、脉冲宽度：40—1000us可设定 5、测试频率：单次 2.6 ntc测试技术条件 阻值测量范围：0～20kω

5 包装、标志和运输 卖方负责整套设备的包装和运输，并负担由此产生的费用。出厂调试结束、出厂前预验收完成后，卖方将为每个柜子量身定做包装柜，-包装坚固，能适应中国境内公路、铁路运输，并-设备在现场保存时间的要求。包装与运输由专人负责，每个部分随机文件包括发货清单、出厂合格证、试验报告和主要器件说明书等。产品广泛应用于电力、冶金自动化、轨道交通、电力电子新能源开发等行业，部分产品出口到欧美等发达。

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