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rohs分析仪的分析原理

波长色散x射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特点信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:

q=ke式中，e为入射射线的光子能量;q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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rohs检测仪类型介绍

gy-mars/t5800型rohs检测仪，采用几何优化设计的大面积、-进口sdd探测器，灵敏度更高，配备美国原厂的第五代数字信号处理器，检测结果更准确，重现性-。

gy-mars/t5800型rohs分析仪，价值之选，不必以-性能为代价，您将获得一款-、-的rohs分析仪，除了能够进行rohs检测外，还可以进行无卤素测试、镀层检测等。

gy-mars/t5800提供针对各种材料的测量模式，测试结果准确，并可根据用户要求扩展模式。

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rohs分析仪原理

北京京国艺科技发展有限公司生产、销售rohs分析仪，我们为您分析该产品的以下信息。

rohs检测的学名是x荧光光谱仪(xrf)。x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成。x射线管产生入射x射线(一次x射线)，激发被测样品，产生x荧光(二次x射线)，探测器对x荧光进行检测。

受激发的样品中的每一种元素会放she出二次x射线，并且不同的元素所放she出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。｛精｝｛长｝您购买我公司rohs分析仪时，不单单是买一台仪器，服务也是您购买的很重要的一部分。探测系统测量这些放she出来的二次x射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的x射线，根据莫斯莱定律，荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关，其数学关系如下:

λ=k(z? s) ?2

式中k和s是常数。

而根据理论，x射线可以看成由一种或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为:

e=hν=h c/λ

式中，e为x射线光子的能量，单位为kev;h为普朗克常数;ν为光波的频率;c为-。

因此,只要测出荧光x射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光x射线定性分析的基础。此外,荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。