检修用IGBT测试仪--「华科智源」

大功率半导体器件为何有老化的问题？

任何产品都有设计使用寿命，同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护，延长产品使用寿命和设备---运行具有---重要。负载电感 配备自动切换开关，可分别接通不同电感值，由计算机控制自动接通。功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及破坏性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。

测试的igbt参数包括：ices漏流、bvces耐压、igesf正向门极漏流、igesr反向门极漏流、vgeth门槛电压／阈值、vgeon通态门极电压、vcesat饱和压降、icon通态集极漏流、vf二极管压降、gfs跨导、rce导通电阻等全直流参数, 所有小电流指标---1%重复测试精度, 大电流指标---2%以内重复测试精度。以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。

半导体元件全自动测试系统，可以元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。西门子plc逻辑控制15数据采集与处理单元用于数据采集及数据处理，主要技术参数要求如下：。每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用； 可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达2kv。

测试参数多且完整、应用领域更广泛，但只要使用其基本的2项功能：「开启」电流压降，「关闭」电流的漏电流，就可知道大功半导体有没有老化的现象。

?可移动型仪器，使用方便，测试简单快速，立即提供测试结果与数值。

?适用的半导体元件种类多，尤其能测大功率元件。

?用户能确实掌握新采购元件的，避免用到瑕疵或品。

?完全由计算机控制、快速的设定参数。

?适用于实验室和老化筛选的测试。

?操作非常简单、速度快。

?完全计算机自动判断、自动比对。

参数名称 符号 参数名称 符号

开通---时间 td(on) 关断---时间 td(off)

上升时间 tr 下降时间 tf

开通时间 ton 关断时间 toff

开通损耗 eon 关断损耗 eoff

栅极电荷 qg

短路电流 isc / /

可测量的frd动态参数

反向恢复电流 irm 反向恢复电荷 qrr

反向恢复时间 trr 反向恢复损耗 erec

声明提示：

本页信息（文字、图片等资源）由用户自行发布,若侵犯您的权益请及时联系我们，我们将迅速对信息进行核实处理。