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低本底测量

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低本底是指再被测性样品中，除本实验感兴趣的核素以外的其他因素包括样品的干扰核素在辐射探测器中产生的信号。低本底测量是指在低本底条件下对样品进行测量，相应使用的仪器称为低本底探测器。

低本底探测器往往选用性杂质少的材料或经过纯化的材料制作探测器及整个装置。可进行打印格式设置，如：页边距、页面大小、报告份数、行间距等设置。除α探测器外，低本底探测器周围要适当增加物质屏蔽，以防止---和周围环境中的射线引起的本底。常用的屏蔽材料为铅和钢。对探测器和测量系统的工作条件也要做适当的选择，以减少噪声和外界电磁场的干扰等因素引进的本底计数。

低本底测量仪主要技术指标

主要技术指标

仪器对于90sr-90yβ源活性区φ20mm的2π探测效率比***50％时， 本底≤0.15cm-2min-1；

仪器对于241amα源活性区φ25mm的2π探测效率比***80％时， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α进入β道的计数比＜3％对241am， β进入α道的计数比＜0.5％对于90sr-90y；

长期稳定性

重复性：仪器连续通电8小时，探测效率变化＜±10％；

本底稳定性：在8小时的测量时间内，本底计数变化应在(nb±3σ)的范围内,其中nb为本底计数的平均值，σ为本底计数的标准误差。

仪器灵敏度：α***5×10-3bq；β***1×10-2bq

耐压绝缘度＞1500v；

绝缘电阻***2mω；

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低本底大面积 α 屏栅电离室

2.1 屏栅电离室的结构和主要参数

为防止样品制备过程中丢失核素，也为省去通常比较费时的化学分离，把待测介质薄薄地铺成大面积薄样是很理想的 α 能谱分析方法。

2.2 大面积源样品的制备

为利用屏栅电离室进行 α 能谱分析，制备出符合要求的大面积均匀薄源是十分关键的。假若样品本身不够薄 和不均匀，那探测器本身的能量分辨本领再高也是没有用的，因为样品自吸收会产生很大的 α 能谱的“尾巴 ”，从而使对 α 能谱的分辨本领遭到---破坏。