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透射电镜tem和扫描电镜sem的基本工作原理

透射电镜tem和扫描电镜sem的基本工作原理：

透射电镜tem：电子束在穿过样品时，会和样品中的原子发生散射，样品上某一点同时穿过的电子方向是不同，这样品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后重新汇聚，形成该点一个放大的实像，这个和凸透镜成像原理相同。这里边有个反差形成机制理论比较深就不讲，但可以这么-，如果样品内部是均匀的物质，没有晶界，没有原子晶格结构，那么放大的图像也不会有任何反差，事实上这种物质不存在，所以才会有这种-仪器存在的理由。经过物镜放大的像进一步经过几级中间磁透镜的放大具体需要几级基本上是由电子束亮度决定的,如果亮度大，由阿贝瑞利的光学仪器分辨率公式决定，然后投影在荧光屏上成像。由于透射电镜物镜焦距很短，也因此具有很小的像差系数，所以透射电镜tem具有非常高的空间分辨率，0.1-0.2nm，但景深比较小，对样品表面形貌不敏感，主要观察样品内部结构。

扫描电镜(sem)测试常见问题

1、做透射电镜tem测试时样品的厚度z厚是多少?

透射电镜tem的样品厚度z好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。

2、请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在扫描电镜sem图片上有各有什么明显的特征？

在扫描电镜sem图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较模糊。

3、做透射电镜tem测试时样品有什么要求？

很简单，只要不含水分就行。如果样品为溶液，则样品需要滴在一定的基板上如玻璃，然后干燥，再喷碳就可以了。如果样品本身导电就无需喷碳。

台式扫描电镜连续观察

　　台式扫描电镜对于从高功率到低功率的连续观测，放大倍数的变化范围非常大，并且不经常需要焦点扫描电镜放大倍数范围广连续可调5-20万倍，一次-后可连续观察从高到低、从低到高，无需再-，-便于事故分析。

　　台式扫描电镜观察生物试样

　　因电子照射而发生试样的损伤和污染程度很小。扫描电镜同其他方式的电子显微镜比较，由于用于观察的电子探针电流小，电子探针的束斑尺寸小通常为5nm到几十纳米，电子探针的能量也小加速电压可以小到2kv此外，它不会在固定处照射样品，而是通过光栅扫描照射样品因此，对一些生物样品进行观察是非常重要的，因为样品的损伤和污染程度都很小。

扫描电子显微镜的特点有哪些?

扫描电子显微镜的特点有哪些？

可以通过电子学方法有效地控制和-图像, 如亮度及反差自动保持, 试样倾斜角度校正, 图象旋转, 或通过y调制-图象反差的宽容度, 以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器, 可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。

可进行综合分析。装上波长色散x射线谱仪(wdx) 或能量色散x射线谱仪 (edx) , 使具有电子探针的功能, 也能检测样品发出的反射电子、x射线、阴极荧光、透射电子、俄歇电子等。把扫描电镜扩大应用到各种显微的和微区的分析方式, 显示出了扫描电镜的多功能。另外, 还可以在观察形貌图象的同时, 对样品任选微区进行分析;装上半导体试样座附件, 通过电动势象放大器可以直接观察晶体管或集成电路中的pn结和微观缺陷。由于不少扫描电镜电子探针实现了电子计算机自动和半自动控制, 因而大大提高了定量分析的速度。