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温州微光显微镜服务放心-「苏州特斯特」

发布者:苏州特斯特电子科技有限公司  时间:2022-2-27 






emmi (emission microscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、---(hot spot)的工具。其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(c-ccd)侦测器,可侦测组件中电子-电洞再结合时所发射出来的光子,其光波长在 350 nm ~ 1100 nm,此范围相当于可见光和红外光区。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。







无损检测技术--sam将scanning acoustic microscope(sam)用于ic的封装扫描检测,可以在不损伤封装的情况发现封装的内部缺陷。由于在很多时候不能打开封装来检查,即使打开很可能原来的缺陷已经被破坏。利用超声波的透射、反射特性可以---解决这个问题。超声波在不同介质中的传播速率不同。






半导体常用失效分析检测仪器;

显微镜分析om无损检测

金相显微镜om:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机数码相机通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机数码相机显示屏幕上观察---图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及---工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,实现样品外观、形貌检测  、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。













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