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块状样品的制备

块状样品的制备 对于块状导电样品，基本上不需要进行什么制备，只要其大小适合电镜样品底座尺寸大小，即可直接用导电胶带把样品黏结在样品底座上，放到扫描电镜中观察，为防止假象的存在，在放试样前应先将试样用或酒精等进行清洗，-时用超声波清洗器进行清洗。对于块状的非导电样品或导电性较差的样品，要-行镀膜处理，否则，样品的表面会在高强度电子束作用下产生电荷堆积，影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动轨迹，使图像下降，因此这类样品要在观察前进行喷镀导电层的处理，在材料表面形成一层导电膜，避免样品表面的电荷积累，提高图象，并可防止样品的热损伤。

粉末样品的制备应注意以下几点

粉末样品的制备

对于导电的粉末样品，应先将导电胶带黏结在样品座上，再均匀地把粉末样撒在上面，用洗耳球吹去未黏住的粉末，即可用电镜观察。对不导电或导电性能差的，要再镀上一层导电膜，方可用电镜观察。为了加快测试速度，一个样品座上可以同时制备多个样品，但在用洗耳球吹未黏住的粉末时，应注意不要样品之间相互污染。

对于粉末样品的制备应注意以下几点:

a、尽可能不要挤压样品，以保持其自然形貌状态。

b、特细且量少的样品，可以放于-或者合适的溶剂中用超声波分散一下，再用毛细管滴加到样品台上的导电胶带上(也可用-点一滴到样品台上)，晾干或强光下烘干即开。

c、粉末样品的厚度要均匀，表面要平整，且量

扫描电子显微镜(sem)的特点

扫描电子显微镜sem的特点

　　和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电子显微镜sem具有以下特点：

　　(一)能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。

　　(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。

　　(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电子显微镜sem的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

　　(五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

扫描电子显微镜是一种利用高能-电子束扫描样品表面

扫描电子显微镜是一种利用高能-电子束扫描样品表面，从而获得样品信息的电子显微镜。所以其使用电子束为照明源，电子束在样品表面扫描，利用电子和物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要依据分辨率和有效放大倍数。分辨率即能够分辨的小距离。

电子光学系统主要是给扫描电镜提供一定能量可控的并且有足够强度的、束斑大小可调节的、扫描范围可根据需要选择的、形状对称的、稳定的电子束[1]。主要由4 部分组成：电子、电磁透镜、物镜光阑、扫描线圈。