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衢州红外显微镜免费咨询「多图」

发布者:苏州特斯特电子科技有限公司  时间:2022-3-6 






扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。通过发射短波传递到样品内部,在经过两种不同材质之间界面时,由于不同材质的阻抗不同,吸收和反射程度的不同,进而的反射能量信息或者相位信息的变化来检查样品内部出现的分层、裂缝或者空洞等缺陷。---的显微成像的技术是诸多行业领域在各类样品中检查和寻找瑕疵的重要手段。在检查材料又要保持完整的样品时,这项非破坏性检测技术的优势尤为---。




显微镜是很多行业中对产品和性能检测的一个重要仪器,它广泛的应用于各个的科学研究,教学实践,生产检测等领域。一般的显微测试是基于人工调节显微镜的对焦系统,反复的手工操作,直到调到被测对象的正焦位置,这样一个过程花费时间较长,效率低,并且,人员必须在显微镜旁边,不能远程调结。随着人们对显微镜的自动化、智能化要求的提高,自动对焦技术的显得越来越重要了。尤其是有些场和需要人员离开。这就需要一种能够远程快速调焦的显微镜,有的产品用电动z轴调焦,电动z轴的缺点是成本高安装复杂,速度慢。不能达到毫秒级的调焦,也不能实现复眼的效果,即多焦点。





超声波显微镜在失效分析中的应用

   晶圆面-层缺陷 锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞晶圆接合面、锡球、填胶…等。超声波显微镜的在失效分析中的优势非破坏性、无损检测材料或ic芯片内部结构 可分层扫描、多层扫描 实施、直观的图像及分析 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计 可显示材料内部的三维图像 对人体是没有伤害的 可检测各种缺陷裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等      






emmi微光显微镜

微光显微镜emission microscope, emmi是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言,微光显微镜emission microscope, emmi是一种相当有用且效率---的分析工具。主要侦测ic内部所放出光子。在ic元件中,ehpelectron hole pairsrecombination会放出光子photon。如在p-n结加偏压,此时n阱的电子很容易扩散到p阱,而p的空穴也容易扩散至n,然后与p端的空穴或n端的电子做ehp recombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面,微光显微镜可分析p-n接面漏电;p-n接面崩溃;饱和区晶体管的热电子;氧化层漏电生的光子激发;l---h up、gate oxide defect、junction leakage、hot carriers effect、esd等问题.






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