检修用IGBT测试仪批发满意的选择「在线咨询」

半导体元件除了本身功能要---之外，其各项参数能否达到电路上的要求，必须定期测量，否则产品的特性很难---，尤其是较大的功率元件，因具有耗损性，易老化及效率降低，因不平衡导致烧毁，甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。 半导体元件的每一个参数，依其极性的不同，都须要一个---的测量电路，我公司所设---产的半导体元件自动测试系统，具有一组继电器形成的矩阵电路，依每个参数的定义，形成千变万化的电路，再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后，在极短的时间内将所须要的数据量测出来，且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。凡是半导体元件如金属氧化场效晶体管(mosfet)、igbt(insulatedgateb。

技术要求

3.1整体技术指标

3.1.1 功能与测试对象

*1功能

gbt模块动态参数测试。

*2测试对象

被测器件igbt模块动态参数。测试温度范围 tj=25°及125°。

3.1.2 igbt模块动态测试参数及指标

测试单元对igbt模块和frd的动态参数及其他参数的定义满足---iec60747-9以及iec60747-2。

以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。

目的和用途 该设备用于功率半导体模块igbt、frd、肖特基二极管等的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。现代新型igbt大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析，以---出厂产品的稳定性、---性。 1.2 测试对象 igbt、frd、肖特基二极管等功率半导体模块 2.测试参数及指标 2.1开关时间测试单元技术条件 开通时间测试参数： 1、开通时间ton：5～2000ns±3%±3ns 2、开通---时间td(on)：5～2000ns±3%±3ns 3、上升时间tr：5～2000ns±3%±3ns 4、开通能量： 0.2～1mj±5%±0.01mj 1～50mj±5%±0.1mj 50～100mj±5%±1mj 100～500mj±5%±2mj 5、开通电流上升率di/dt测量范围：200-10000a/us 6、开通峰值功率pon：10w～250kw

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