佳木斯镀层测厚仪膜厚仪供应商欢迎来电「英飞思科学」

>;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>;钢上锌等防腐涂层

>;电路板和柔性pcb上的涂层

>;插头和电触点的接触面

>;电镀液分析

>;镀层，如金基上的铑材料分析

>;分析电子和半导体行业的功能涂层

>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn

>;可拓展增加rohs有害元素分析功能

英飞思xrf镀层测厚仪优势

>;微光斑x 射线---光学器件

通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。

>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现---测量。

>;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>;全系列标配薄膜fp无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如cr/fe, ni/fe, ag/cu,zn/fe等

多涂镀层应用：如au/ni/cu, ag/pb/zn, ni/cu/fe等

合金镀层应用：如znni/fe, znal/ni/cu等

合金成分应用：如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度