长治EDX-8000B型XRF镀层测厚仪来电垂询「英飞思科学」

测厚仪

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的---性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪

simply the best

>;微光斑x 射线---光学器件

通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。

>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现---测量。

>;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如cr/fe, ni/fe, ag/cu,zn/fe等

多涂镀层应用：如au/ni/cu, ag/pb/zn, ni/cu/fe等

合金镀层应用：如znni/fe, znal/ni/cu等

合金成分应用：如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度