莆田EDX-8800H立式X荧光光谱仪厂商-「多图」

rohs检测方法可以参考iec62321：2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用xrf光谱仪进行无损筛选，快速，非破坏性，成本低。但干扰因素多，误差较大。

xrf光谱rohs分析仪以其可进行快速无损筛检的性能，受到多个行业的---，其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰：衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。

拆分原则

1 拆分的目标是通过适当的拆分手段来获得构成电子电气产品的均质材料。需采取适当的拆分手段来获得均质材料，以---拆分结果用于后续测试时，不会因为拆分不当而产生错误判断。

2 同一生产厂生产的相同功能、同规格参数的多个模块、部件或元器件可以归为一类，从中选取代表性的样品进行拆分，使用相同的材料包括基材和添加剂生产的不同部件可视为一个检测单元。

3 颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。

4 对于相关---中规定的豁免清单中的项目或材料，在拆分时-以识别。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定比如层高分子都是10微米厚。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收的问题。