石家庄便携式傅立叶拉曼原理-「多图」
拉曼光谱在材料科学中是物质结构研究的有力工具,在相组成界面、晶界等课题中可以做很多工作。包括:
1薄膜结构材料拉曼研究:拉曼光谱已成cvd化学气相沉积法制备薄膜的检测和鉴定手段。拉曼可以研究单、多、微和非晶硅结构以及硼化非晶硅、氢化非晶硅、金刚石、类金刚石等层状薄膜的结构。
2超晶格材料研究:可通过测量超晶格中的应变层的拉曼频移计算出应变层的应力,根据拉曼峰的对称性,知道晶格的完整性。
3半导体材料研究:拉曼光谱可测出经离子注入后的半导体损伤分布,可测出半磁半导体的组分,外延层的,外延层混品的组分载流子浓度。
4耐高温材料的相结构拉曼研究。
5全碳分子的拉曼研究。
6纳米材料的量的子尺寸效应研究。
检查仪器和所有附件插座都插好并接通电源。
---激光器如果附带电源都插好并接通,由于激光器有不同种类,可参照每个激光器的说明书获取进一步的帮助。
在有两个或多个激光器的系统中,---联锁系统设置在正确的位置上,正确的激光器被接通。
检查仪器的外罩处于安全的关闭状态,联锁装置正在运转。
如果以上操作都已经检查过,你就可以准备进行光谱测试了。将样品放置在显微镜下,启动光谱操作软件,如果你仍不能得到光谱,检查下面各项。
---样品被正确地放置在显微镜下,即样品被准确地---并照射在样品正确的位置上。测量时经常需改变不同的测试区域以避免因样品不纯带来一些非期望结果的可能。
---激光正确辐照在样品上,---显微镜光圈的孔径设置正确并处于正确的位置上不同品牌的拉曼光谱仪按各自的要求处理。
检查所有软件窗口的设置是否正确。
检查成像区域设置窗口的数值并---激光像点处于该区域的中心。标准成像区域应该是激光像点中心垂直方向两边各10个像元。检查狭缝的设置,当进行标准操作时,狭缝应为50μm。
如果ccd探测器饱和了,你将得不到任何有用的信息。可采用降低激发光功率或提高仪器的共焦程度来避免。
当检查完上述各项后,你应该可以得到一张样品的拉曼谱图。如你仍然不能得到谱图,可先尝试测试单晶硅的拉曼谱。单晶硅是---的拉曼散射体,可以用来帮助验证仪器的性能。如果用单晶硅样品可以获取硅的520cm-1峰,再尝试测试样品。现在你可以得到样品的拉曼信号,但可能噪声较大。在这种情况下,可参照q4的建议来提高信噪比和信背比。
当你进行样品测试时,激光照射在样品表面的能量是非常大的,尤其在采用nir或uv激光激发时。尤其是一些样品在光照下对热或光是十分敏感的,这会导致测量信号包含样品烧毁后的特征,而不是样品本征的信号(例如,非晶碳膜在1500cm-1波数附近的本征峰在强光激发时会显示出石墨化的碳峰)。通常遇到这样的问题时,可在样品测试前后通过显微镜白光像观察样品表面是否发生明显变化,因此需选择正确的激光功率来进行测试。
为避免样品表面烧毁,在开始测试时应选用较低的激发功率,尤其用nir或uv激光激发时。在---样品不被烧毁的前提下可提高激发功率以得到很强的信号。当激光功率衰减到1%仍无法避免样品烧毁时,可考虑转换低倍物镜以降低照射在样品表面的功率密度。另外还可采用欠焦照射模式或线---照射模式。如果问题是由于高功率二极管激光器引起的,可考虑转换成低功率可见激发系统。
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