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(1)icp光谱仪及光学系统维护，是进样系统中精密，关键的部份，需要---的维护和使用。在测定完样品后，---是测定高盐溶液之后，的顶部以及炬管喷嘴都会有积盐份，会造成气溶胶的通道不畅，—般是出现检测出来的元素强度下降，仪器反射功率升---，当仪器提示运行光学初始化时，须先做光学初始化。由于光谱的特征性强，所以对于一些化学性质极相似的元素的分析具有---重要的意义。
(2)其他。每次开机前，应事先计划好实验方案，做好准备工作，避免在一段时间内反复开机，因为每次开机时，其瞬间通过的电流要远远大于正常工作时的电流，可能造成某些元件的过早老化。icp光谱仪是需要定期维护地设备,这样才能---设备地正常运行和---。作为一台精细丈量仪器，它还需求有相对安稳的电源，供电电压的改变通常不---＋百分之5。
1. 多元素同时检出能力。
可同时检测一个样品中的多种元素。一个样品一经激发，样品中各元素都各自发射出其特征谱线，可以进行分别检测而同时测定多种元素。
2. 分析速度快。 试样多数不需经过化学处理就可分析，且固体、液体试样均可直接分析，同时还可多元素同时测定，若用光电直读光谱仪，则可在几分钟内同时作几十个元素的定量测定。
3. 选择性好。 由于光谱的特征性强，所以对于一些化学性质极相似的元素的分析具有---重要的意义。如铌和钽、铣和铪、十几种稀土元素的分析用其他方法都很困难，而对aes来说是-困难之举。
一台典型的icp光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. ---元件: ---色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。
波长校正
波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。光学多道分析仪oma是近十几年出现的采用光子探测器(ccd)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。
漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。icp发射光谱法具有同时或顺序多元素测定能力，---是固体成像检测器的开发和使用及全谱直读光谱仪的商品化更增强了它的多元素同时分析的能力。
icp光谱仪主要用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、 硫等少量的非金属，共 72 种。广泛地应用于控制的元素分析，超微量元素 的检测，尤其是在领域的水质监测。还可以对常量元素进行检测，例如组分 的测量中，主要成分的元素测定。例如，在检查半导体材料硅和锗是不是达到了高纯度的要求时，就要用到光太阳光谱谱分析。
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