平顶山EDX-8800H立式X荧光光谱仪价格承诺守信 苏州英飞思科学

5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。

6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，可以整体制样如：0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分作为非均质检测单元，直接提交检测。

7 表面处理层应尽量与本体分离如涂层；对于确实无法分离的如镀层，可对表面处理层进行初筛(如使用 x 射线荧光光谱仪xrf等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不合格，可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液

学溶解提取)。

8 在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取

适类，一同制样，直接提交检测

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定比如层高分子都是10微米厚。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收的问题。