厚测量仪—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
涂层测厚仪的工作原理
涂层测厚仪常见的工作原理有磁感应测量原理和电涡流测量原理。
磁感应测量原理的产品主要是利用指针式表头，测量基体金属感应电动势的大小，仪器接受以后通过将信号放大来表示覆层厚度。近年来由于电路设计方面的一些新技术突破，可以采用设计的集成电路，引入微机，是误差范围成百倍的缩小，经常被用于测量钢铁表面的油漆层以及化工石-业的防腐层。
电涡流测量原理是利用高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大的现象进行的。但电涡流测量原理使用时还要注意一个非常重要的条件，覆盖材料的导电性与基体金属的导电性应当相差三倍以上。
欢迎咨询景颐光电了解更多厚测量仪
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反射膜厚仪
紧凑型-反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。
光学薄膜测量解决方案;
非接触、非破坏测量;
重点算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;
是膜厚重复性测量精度:0.02nm
配置灵活、支持定制化
产品特点
采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围;
采用光机电高度整合一体化设计，体积小，汕头厚测量仪，操作简便；
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；
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影响光谱测厚仪检测的因素
光谱测厚仪本身的分辨力和精细的光谱辨析效果也为后续的测量带来了品质，这种光谱仪装置其本身的检测效果要表现出稳定的，影响光谱仪检测的因素。
相应传导技术的水平和探测装置的技术能力
由于待测物质体积的-相应的采样方法必须要灵活且-，而我国--的光谱测厚仪使用方-受到这种探测装置知识能力的影响，由于其本身的光纤信号和相应的传输作用有着显着的差异，厚测量仪价格，后续的智能处理和功效形成也会产生-的不同，因此在日常的使用之中更需要采购的装置，利用光谱仪-的功能优势实现-的传导和探测.
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