工业ct是在射线检测的基础上发展起来的，其基本原理是：让一束x射线投射在物体上，通过物体对x射线的吸收多次投影便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为i0的一个窄束x射线穿过吸收系数为的物体时，其强度满足指数衰减关系：
式中为x射线所穿过物质层厚度。在实际情况中，射线ct检测，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。
面探测器主要有三种类型：高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为ccd和cmos。ccd对x射线不敏感，表面还要覆盖一层闪烁体将x射线转换成ccd敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数，像素尺寸可小到10微米左右，探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸，射线ct检测，一般直径在50mm以上。因为探测单元很小，信号幅度也很小，为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
x射线管的设计有两种形式：开放管和闭合管。开放管顾名思义是开放式的，“这种技术要求在射线管内建立一定的真空度，利用两级真空泵不间断地运行来维持真空。”在这个过程中，射线ct检测价格，大量的热量从射线管被转移到工作舱内。在某型情况下，工作舱内的温度甚至可-60~70℃。而在闭合管上，热量由于-闭在管内，射线ct检测方案，不容易转移到工作舱内。而进一步配以合适的冷却系统根据功率高低采用空冷或液冷，这一问题会得到较好的解决。所以
当选择x射线管形式时，要注意几个方面的因素，其中一个便是射线管的热量传导。
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