在 ade 中根据设计要求搭建测试电路， 本例按照理想元器件、 和 peakview 模型进
电路测试比对。 电路中已知的终端电阻 rt=50ω， 负载电容 cl=600ff。
1 理想电路： t-coil 和桥接电容 cb 都是按照理想元器件进行设置。这是在电路设
计时的结果，指标肯定是的。
2 实际电路： t-coil 是 peakview 生成的模型， 通过 instance 调用过来。 而且 tcoil 模型中存在线圈间耦合电容， 所以桥接电容 cb 要扣除这部分， 否则结果有
偏差。 需要在测试时对 cb 进行变量扫描， 来找出值
工艺日益-，foundry制成加工中lde效应会导致设计阶段em sim结果和流片后实测结果偏差越来越大；传统的hfss、ads等em工具没有考虑lde效应，存在上述偏差风险；peakview软件考虑lde效应对设计-度的影响，在配置文件中添加lde信息，-sim结果更接近于实测值。
工艺日益-，foundry制成加工中lde效应会导致设计阶段em sim结果和流片后实测结果偏差越来越大；传统的hfss、ads等em工具没有考虑lde效应，存在上述偏差风险；peakview软件考虑lde效应对设计-度的影响，在配置文件中添加lde信息，-sim结果更接近于实测值。
l 综合功能：以软件内建函数ld，电感优化，l，qd，r，etc)为目标值或者以户自建函数为目标进行综合，由软件自动计算出符合目标要求的器件；
l 扫描功能：允许用户同时扫描多个版图参数如电感宽度，外径，圈数等；只要是在器件库中定义的参数，都可以作为扫描目标进行扫描；
l 综合+扫描：综合与扫描一起使用，从而设计出的器件；用户设置综合的目标值并同时设置多个变量进行扫描，软件在设置的参数范围内综合出符合目标值的多个尺寸的器件，供用户在这些满足要求的器件中选择器件q值更高或者面积更小，节省
l 成本，提升设计；
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