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采用正压法检漏时，需对被检产品内部密封室充入高于一个-压力的-气，当被检产品表面有漏孔时，-气就会通孔漏孔进入被检外表面的周围-环境中，再采用吸枪的方式检测被检产品周围-环境中的-气浓度增量，从而实现被检产品泄漏测量。正压法的优点是不需要辅助的真空系统，可以，实现任何工作压力下的检测。按照收集-气方式的不同，又可以将正压法分为正压吸枪法和正压累积法。其中正压吸枪法采用检漏仪吸枪对被检产品外表面进行扫描探查，可以实现漏孔的; 正压累积法采用有一定密闭功能的-罩将被检产品全部罩起来，采用检漏仪吸枪测量一定时间段前后的-罩内-气浓度变化量，实现被检产品总漏率的测量。
正压法的优点是不需要辅助的真空系统，可以，实现任何工作压力下的检测。
正压法的缺点是检测灵敏度较低，检测结果不确定度大，受测量环境条件影响大。
正压法的检测标准主要有qj3089-1999《-质谱正压检漏方法》、qj2862-1996《压力容器焊缝-质谱吸枪罩盒检漏试验方法》，主要应用于大容积高压密闭容器产品的检漏，如高压-气瓶、舱门检漏仪等。
采用真空压力法检漏时，需要将被检产品整体放入真空密封室内，真空密封室与辅助抽空系统和检漏仪相连，被检产品的充气接口通过连接管道引出真空密封室后，再与-气源相连，当被检产品表面有漏孔时，-气就会通过漏孔进入真空密封室，再进入-质谱检漏仪，从而实现被检产品总漏率的测量。此外，每个测量漏率都对应两个等效标准漏率，在细检完成后还需要采用其它方法进行粗检，排除大漏的可能。
真空压力法的优点是检测灵敏度高，能实现任何工作压力的漏率检测，反映被检件的真实泄漏状态。
真空压力法的缺点是检漏系统复杂，需要根据被检产品的容积和形状设计真空密封室。这里需要说明在检漏过程要求-充气管道接口无泄漏，或者采取特殊的结构设计将所有充气管道连接接口放置在真空密封室外部。
真空压力法的检测标准有gb /t 15823-2009《-泄漏检验》，主要应用于结构简单、压力不是-高的密封产品，如电磁阀、高压充气管道、推进剂贮箱、天线、应答机、整星产品等。
通常在生产环境中，在不同的区域之间由于温差、风扇或其它形成空气流动因素出现而导致空气的流动，而任何空气流动对于检漏能力都具有一定的作用，因为被检测的气体将被穿堂风吹离吸枪探尖的开口为取得-的测试结果，试漏区应屏蔽这些风带来的-影响。
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为了防止半导体器件、集成电路等元器件的表面因玷污水汽等杂质而导致性能退化，就必须采用管壳来密封。如果在试漏后将检漏气体排放在试漏区内，那么在整个工作日内本底浓度将不断地增长。但是在管壳的封接处或者引线接头处往往会因为各种原因而产生一些肉眼难以发现的小洞，所以在元器件封装之后，就需要采取某些方法来检测这些小洞的存在与否。 -气检漏就是采用-气来检查电子元器件封装管壳上的小漏洞。因为-原子的尺寸很小，容易穿过小洞而进入到管壳内部，所以这种检测方法能够检测出尺寸很小的小洞即能够检测出漏气速率约为10?11～10?12cm3/sec的小洞，灵敏度可与性检漏方法-，但要比性检漏方法简便。
-气检漏试验的方法：首先把封装好的元器件放入充满-气的容器中，并加压，让-气通过小洞而进入管壳中；然后取出，并用压缩空气吹去管壳表面的残留-气；接着采用质谱仪来检测管壳外表所漏出的-气。
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