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1. 检出限低。 一般可达0.1～1ug·g-1，值可达10-8～10-9g。用电感耦合等离子体(icp)新光源，检出限可低至 数量级。
2. 用icp光源时，准确度高，标准曲线的线性范围宽，可达4～6个数量级。可同时测定高、中、低含量的不同元素。因此icp-aes已广泛应用于各个领域之中。
3. 样品消耗少，适于整批样品的多组分测定，尤其是定性分析更显示出---的优势。
一台典型的icp光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. ---元件: ---色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。
icp光谱仪是上世纪60年代提出、70年代迅速发展起来的，它的迅速发展和广泛应用是与其克服了---光源和原子化器的局限性分不开的，那么icp光谱仪的目标元素都有哪些呢？下面小编就来介绍一下：
icp光谱仪软质样品例如：铜、铝、锌、铅必须车削表面或用酒精湿磨.磨好的表面一定不要玷污例如用手触摸.考虑到金属热涨冷缩效应,会影响光线稳定性.温度变化会影响仪器的热平衡,对和一些电器件会造成不稳定,若温差较大对光路也会有影响.
icp光谱仪对于钢和铸铁颗粒大小,对钢是60到80之间,对铸铁是40到60之间,建议用适合于本仪器样品的砂纸干磨.砂纸一定不要被高合金含量的样品污染例如：应该先用于低合金样品，再用于高合金样品.样品必须在清洁的、规范的砂纸上磨没有先前激发处理留下的激发的痕迹.样品表面不能被抛光适时更新用过的砂纸.必须---样品在磨的过程中没有过热样品应该与砂纸只有短暂的接触。同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在---的错误，必须注意清洗。如果需要，样品应该用水冷却，再干燥，再尽可能短的时间干磨.
icp光谱仪可用标样中目标元素的“真实浓度”与分析线对和强度比r拟合工作曲线校准曲线。如果铁含量变化过大，如高、中合金钢，其影响不可忽略，需要用标样中目标元素的“相对浓度”或“浓度比”与分析线对和强度比r拟合工作曲线，这就是我国光谱分析的前辈讲的“---含量法”。如果希望用同一工作曲线同时分析高、中、低合金钢，那就都要用“相对浓度”来校正基体含量的影响。更进一步，如果既要校正基体含量的影响，又要校正共存元素的干扰，就应该用“表观浓度”来拟合工作曲线。在严格按操作程序操作，并排除人为误操作的基础上，再分析仪器自身运行是否存在问题。
icp光谱仪虽然本身测量准确度---，但测定试样中元素含量时， 所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。
icp光谱仪校正的目的是消除环境温度造成的光学系统漂移与机械震动造成的机械位移。通常，在仪器安装调试过程中首先要进行光学系统校正；2、实验室要求配备空调机，温度控制在20-25℃(波动小于2℃)。在仪器正常使用过程中根据环境温度的条件适当进行光学系统校正。 在prodigy仪器中，由于仪器本身有恒温系统，操作人员只要控制仪器达到恒温条件，即可正常进行分析测量，无须频繁校正光学系统。
波长校正
在使用任何一个元素、任何一个波长进行分析测量之前，都要做波长校正。波长校正的目的是：对事先存储在谱线库中的理论波长坐标位置进行修正、---实际使用的波长坐标位置准确。
仪器安装调试以后，波长校正不需要经常做。如果实验室温度变化较大，应适当进行波长校正。
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